仪器型号:LEICA EM BAF060厂商:德国徕卡公司
冷冻蚀刻(FF)系统作为高端制样系统,可以实现冷冻断裂、蚀刻、冷冻干燥及双复型,高分辨率碳/金属 复合镀膜,适用于TEM或SEM分析。特点是带有先进的微操作切片机,两个电子源独立工作,投影参数灵活设置,并带有交换预抽室。高重复性,高度样品保护。
上一条:透射电子显微镜
【关闭】